第286章 测试光刻机 (第5/5页)
何万明和吴芊语等在这里进行数据的汇总。
检测一个芯片的性能的手段已经有很多。很快各个消息就会汇集他们手中。
智能芯片的基本构造，碳基晶体管是寻常硅基晶体管功率的三倍。耗电性能下降了30%。
其他芯片的基础性能也大范围的超出硅基芯片。
碳基芯片经过测试，也传来好消息。它的性能完全不输于国际最顶级的芯片。
还有很强大的兼容性，可以兼容大部分软硬件。
特别是碳基芯片有有硬件智能电路。改变了常规芯片判断数据的方式。在这个芯片上可以更好的开发人工智能程序。
何万明又拿着手中已经封装好的硅基芯片。经过测试这个轨迹芯片也达到国际主流水准。
这个光刻机完美的通过他们的测试。